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M-2000系列光譜橢偏儀旨在滿足薄膜量測的各種需求
橢偏儀theta-SE多點量測橢偏儀是一種用於表徵薄膜均勻性的光譜式橢偏儀
橢偏儀光譜橢偏儀Alpha-SE非破壞性薄膜厚度量測儀是J.A.Woollam橢偏儀產品中
利用反射原理推算膜厚,完整的軟體資料,內建500種以上材料數據供比對
MProbe 20系列非破壞性反射式膜厚儀
MProbeHC是一個完整量測薄膜上硬鍍層的平面或曲面系統
VUV-VASEEllipsometer薄膜厚度量測儀以M-2000為主體
J.A.WoollamVASE是一款高精度多角度橢圓偏光儀,V-VASE系統非接觸式膜厚量測,垂直擺放樣品,移動精度高,量測角度從15-90度,可進一步量測樣品...
干涉式膜厚儀-使用光進行非接觸式厚度測量Bristol膜厚儀使用光的特性來精確測量透明、半透明和一些不透明材料的厚度
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